用于C_6D_6测量系统的高精度权重函数计算方法研究
【摘要】:本文基于中国散裂中子源(CSNS)反角白光中子束线(Back-n)的C_6D_6测量系统,以重要核素~(209)Bi为研究对象,利用蒙特卡罗方法研究了样品厚度对权重函数求取精度的影响,并发展了求解C_6D_6探测器的点态权重函数技术。研究结果表明,目前Back-n上的C_6D_6测量系统权重函数的系统不确定度会随实验样品厚度的增加而迅速增加,而本工作得到的点态权重函数的系统不确定度在样品厚度增大到6 mm时仍小于0.5%,有利于提高厚样品实验数据的精度。本工作为将来在Back-n上开展如~(209)Bi等高原子序数、小截面核素的中子辐射俘获截面的实验测量奠定了技术基础。
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